本文围绕光子芯片耦合损耗过高的核心痛点展开系统溯源，从模场失配、对准偏差、工艺缺陷三个维度梳理损耗异常的核心成因，结合硅基光电子、氮化硅等主流光子芯片的封装场景，给出从设计端预优化到封装端实操调试的全链路低损耗解决方案，明确光纤与波导耦合封装的标准化实操流程、精度控制要点与完工校...